無機EL特性測定システム SX-1100シリーズ　発売のお知らせ EL材料の研究開発を大幅にスピードアップ 東京工芸大学 工学部　佐藤利文 助教授と共同開発

岩通計測株式会社（本社:東京都杉並区、社長:藤田 博之、以下"岩通計測"）は無機EL特性測定システムSX-1100シリーズを発売致しますので、お知らせ申し上げます。

開発の背景

EL（エレクトロルミネッセンス）材料には無機系と有機系があります。 無機系が先に開発されましたが、比較的高電圧の（100V～200V）交流電源が必要で、高輝度かつ長寿命の青色・白色発色の材料が見あたらず、開発のすう勢は有機ELになっていました。 しかし、最近、低電圧直流駆動・高輝度の無機ELの発表をきっかけに無機ELへの回帰傾向が見られます。 フラットパネルディスプレイへのコスト、性能、寿命、デザインなどの要求は今後も高まりますが、無機ELは化学的に安定で、製造工程に通常の印刷技術を活用できるため、今後幅広い用途への応用が期待できます。 無機ELの測定装置は大半が手作りで効率が悪く、それも研究を遅らせている要因でした。 本装置は、この分野に詳しい東京工芸大学 工学部の佐藤 利文助教授と共同開発しました。

SX-1100シリーズの概要

本装置は、無機ELの研究・開発に必要な電気的特性、光学的特性を一括して自動測定することが可能で、EL材料、製品の研究開発に不可欠な特性測定に関わる時間を約1/4に短縮できます。 開発期間の短縮とEL導入の決め手となる低コストの実現に大きく貢献できます。

SX-1100シリーズの特長

	無機ELの電気的測定、光学的測定を同一装置で行えるので、非常に効率的です。
	測定視野径を自在に可変できる蛇腹暗箱を備えています。 センサ類と一体になっているので使い勝手に優れています。
	仮想接地方式による高精度な電流測定を行うことができます。
	高電圧アンプは50Hzから15kHzの広帯域タイプです。

主な仕様

	◎ 印加電圧 0V～1,200Vp-p ◎ 印加波形 三角波、正弦波、方形波、DC ◎ 測定周波数 50Hz～15,000Hz ◎ 測定電流 100pA～50mA ◎ 測定電荷量 1fC～10C（クーロン） ● 測定輝度 0.01 cd/m2～2×107 cd/m2　（カンデラ） ● 測定最小視野径 0.1mm ● 分光測定波長域 350nm～850nm ● 色度測定 CIE色度座標x,y ● 紫外強度測定域 310nm～400nm
	◎ 電気的特性 ● 光学的特性

解析例

1. Freq_Sweep（周波数スイープ）測定 （周波数を変化させたときの特性） （電圧は一定）		2. V_Sweep（電圧スイープ）測定 （電圧を変化させたときの特性） （周波数、波形は一定）
3. Transient（過渡）測定		4. X_Y測定

SX-1100シリーズ外観

標準価格

無機EL特性測定システム　SX-1100シリーズ

12,000,000円から （税込み12,600,000円から）

販売見通し

SX-1100シリーズ

10台/　年

発売時期と出荷開始

● 発売日	2006年10月6日
● 受注開始	即日

パワーエレクトロニクス計測　アプリケーション紹介

お問い合わせ先

■　お客様 岩通計測株式会社　営業部 〒168-8511　東京都杉並区久我山１－７－４１ 電話： 03-5370-5474　　FAX： 03-5370-5492