岩通計測株式会社

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非接触変位計、厚さ計
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ホーム>製品情報>非接触変位計、厚さ計>厚さ計測システム

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厚さ計測システム カタログ(2,154KB)
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資料請求フォーム(488KB)
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アプリケーションノート
金属板の厚さ分布測定
(213KB)
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シリコンウェハ厚さ測定
(61KB)
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非接触 超高分解能 3nm 広計測範囲 1μm~99mm
ナノメートル分解能の厚さ計測を実現、最高分解能 3nm

応用分野

シリコンウエハの測定  (太陽電池用、8 inch ウエハ、12 inch ウエハなど)
  太陽電池の厚さ選別 (100μm、200μmの厚さを手動測定台によって選別)
シリコンウエハの厚さ選別(400μ、500μm、600μmの厚さを自動機によって選別)
研磨量の測定(研磨工程前後の厚さを測定)
金属の測定 (銅板、ステンレス板、アルミ板 など)
  銅板製造機の走行している銅板の厚さ測定(200μmの厚さの銅板を走行中に測定)
自動車用部品の厚さ測定(30mm の厚さのブレーキパット用円板を手動回転させて厚さ測定)
ハードディスク用アルミ板の厚さ測定
両面を金属で覆われた積層板の測定
  両面を銅薄で覆われたプリント基板の測定
銅板の厚み検出 ウェハ又はハードディスクの厚み検出
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