矢形チップS |
ツバの部分をコード側に引き、先端部を測定物に引掛けて測定します。 |

アースピンA |
立上り(下降)時間が速い波形歪を測定するときの波形歪を減少させるために、被測定点のすぐ近くにアースをとります。 |

絶縁キャップ |
被測定点に触れるとき、プローブの先端のアース部が隣接する回路に触れないように絶縁します。 |

ICリード |
ICのピンなど、測定物をはさんで使います。 |

カラーリングA/B |
スコープを2chで観測する場合、プローブコードに取付けて各チャネルの判別をしやすくします。白・橙各2ケずつ付属しています。 |

アースリードS |
高周波を測定するときは必ず使います。リード線の片端のネジはプローブ本体のネジカバーの穴に充分にネジ込んでください。 |

調整用ドライバ |
プローブの位相調整を行うときに使います。 |

矢形チップ |
ツバの部分をコード側に引き、先端部を測定物に引っ掛けて測定します。 |

カラーリングC/D |
スコープを2chで観測する場合、プローブコードに取付けて各チャネルの判別をしやすくします。白、橙各2ケずつ付属しています。 |

アースアタッチメント |
プローブ先端のアース接触子で、周波数成分が30MHz以上の信号源に触れるとき先端へ差し込んで使用します。 |

ICテストチップ |
プローブ先端の接触子で、直接IC(DIP)リードへ触れるときに先端へ差し込んで使用します。 |

アースリード |
高周波を測定するときは必ず使います。リード線の片端のリングはプローブ本体のリングの穴に充分に差し込んでください。 |