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1ch 広帯域差動アンプ IE-1165（バッテリ駆動可能）
| ■ 用途 高電圧スイッチング・デバイス（IGBT、FET、GTOなど）のスイッチング波形観測をしたい（IGBTのVceなどの計測）、モータ・ドライブ回路のゲート信号、PWM波形観測をしたい、生産ラインなどのノイズが多い環境下でノイズに強い測定をしたい、高電圧プローブとの組み合わせで差動測定したいなどのシーンで利用される差動アンプ（電圧プローブは別途必要）です。
■ 概要 |
図1：本体差動アンプとバッテリー動作時のDS-5100に添付されている10:1プローブ接続例
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| 図2：PHV-1000 100:1プローブ接続測定系 |
| ■ 主な仕様 |
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| ■ パッシブ・プローブ（電圧プローブ）との組み合わせ例 |
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| ■ 高電圧入力にも対応可能な1ch 広帯域差動アンプ |
| 差動アンプは、高電圧測定・生産現場での小信号測定などあらゆる測定に利用できます。 なぜ、差動測定をしなければならないのでしょうか？ |
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| (1) ノイズが多い環境で測定する | |||
| (2) 基準電位がGNDレベル（0電位）でない測定ポイントを測定 | |||
| (1) ノイズが多い環境で測定する | |||
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| 図3：シングル・エンド入力形式 | |||
| 図3は、シングル・エンドCH入力の簡易回路を示しています。アンプ入力のグランドと信号源のグランド間に電位差が生じると、ノイズ（VgとVgaの電位差）が重畳され、波形が歪んでしまいます。外部からノイズが飛び込んできた場合もノイズが信号に重畳します。 | |||
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| 図4：差動入力形式 | |||
そこで、差動入力形式にします。測りたい信号源の波形は、ノイズが重畳しても信号発生器のグランドに生じるノイズ源やクロストークノイズをキャンセルしてノイズに強い測定ができます。 実際の測定例を図5：シングル・エンド入力測定、図6：差動アンプと電圧プローブの組み合わせによる差動測定に示します。 |
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グランドからの回り込みやクロストークノイズによる影響が観測された。 |
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図5：シングル・エンド入力測定 |
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| ノイズの影響が減少し、差動測定効果が大きく現れた。 |  |
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図6：差動アンプと電圧プローブの組み合わせによる差動測定 |
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| (2) 基準電位がGNDレベル（0電位）でない測定ポイントを測定 | |||
| 基準がグランドでない信号レベルの測定ができます。図のIGBTなどのパワー・デバイスを利用した2レベル・モータ・ドライブ回路のハイサイド側のスイッチング波形も計測可能です。弊社取り扱いのPMK社製電圧プローブを組み合わせて、高電圧測定ができます。 | |||
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| 図7：レベル・モータ・ドライブ回路例 | |||
| 図7の例は、小信号振幅のベースと高電圧が現れるエミッタ間を測定するときの電位を示しています。グランドでない電圧を基準に測定するため、差動アンプと電圧プローブを利用した安全な測定をおすすめします。 高電圧が加わる測定点の測定器のグランド側を浮かしたフローティング測定は、危険です。 |
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| インバータのHighside Vce測定など大きなコモンモードノイズが重畳したインバータのハイサイド側の Vgeの測定には、アイソレーションシステムDM-8000をご使用ください。 | |||
