岩通计测株式会社

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半导体特性曲线图示仪
CS-3000系列
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主页>产品信息>半导体特性曲线图示仪 CS-3000系列

半导体特性曲线图示仪 CS-3000系列 (符合 UL 规格)TOP

非常适合测量不同类型半导体（包括IGBT、MOSFET、晶体管和二极管）的特性
最大峰值电压：3000 V（高电压模式，适合所有型号）
最大峰值电流：1000 A（CS-3300高电流模式）
所有型号均支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA）
USB接口（保存屏幕图像和设置条件）
LAN接口（远程控制）
CS-3100、CS-3200、CS-3300


产品系列


  产品名称 型号 备注
主机 半导体特性曲线图示仪 CS-3100 3000V /无高电流模式- CS-301 / CS-500
半导体特性曲线图示仪 CS-3200 3000V / 400A（高电流模式）- CS-302 / CS-500
半导体特性曲线图示仪 CS-3300 3000V / 1000A（高电流模式）- CS-302 / CS-500
测试台 S型测试台 CS-301 CS-3100标配
M型测试台 CS-302 CS-3200 / CS-3300标配
测试适配器 测试适配器 CS-500 主控装置附送1个测试适配器
TO型测试适配器 CS-501 适用于TO型封装（3个引脚）的插口
鳄鱼夹 小型鳄鱼夹（红色） x 10 CS-001 M型测试台选件：CS-302
小型鳄鱼夹（黑色） x 10 CS-002 M型测试台选件：CS-302
软件选件 半导体参数搜索 CS-800 该软件选件需与CS-3000系列配合安装
半导体参数测量 CS-810 主控装置中装有CS-800时，该选项可以在PC（可选）上使用。

用户友好的测量屏幕


图形配置屏幕 晶体管V-I特性示例（跟踪模式）
图形配置选择 晶体管I-V特性示例（Trace模式）

大电流脉冲模式（波模式）下的Vbe和Ic波形
高电流脉冲模式（波模式）下的Vbe和Ic波形
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